ERS Wave3000问世----用于晶圆先进封装的前沿翘曲测量设备
2023-05-31 10:00:14
来源:电子创新网
(资料图)
半导体制造业提供温度管理解决方案的领导者—— ERS electronic开发了一种史无前例的晶圆翘曲测量和分析设备。由于其先进的光学扫描测量方法,使得Wave3000在可以准确地测量晶圆在特定处理位置的变形,并提供全面精准的翘曲分析,这对于确保先进封装设备的质量至关重要。
Wave3000: “ERS presents its latest innovation, Wave3000, a state-of-the-art warpage metrology tool”
标签: